扫描电子显微镜

扫描电子显微镜特点

FlexSEM 1000 II，凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器，可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面，具有亮度和对焦自动调节功能，可以在短时间内进行各种观察。此外，还搭载了全新的导航功能“SEM MAP"，这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点，实现最直观的视野移动。

• 尽管是可放置在桌面上的小巧紧凑型^*1电子显微镜，仍可实现4.0 nm的分辨率

• 凭借的高灵敏度二次电子、背散射电子检测器、低真空检测器（UVD^*2），可在低加速/低真空下观察时实现最高的画质

• 全新的用户界面，无论用户的熟练程度如何，都可实现高画质和高处理能力

• 全新的定位功能“SEM MAP"，支持观察时的视野搜索和样品定位

尺寸虽小，却具备同类产品中最高的分辨率。

配备可优化放射电流的功能，以便在较低的加速电压下也能获得足够的亮度，而获得噪点小且清晰的图像。

宽幅仅为45厘米，紧凑型设计，减小占用空间。机体仅支持AC100 V 3P电源插座。此外，机体和电源盒可以分离，从而大幅度提升诸如桌面设置等的布局灵活性。

规格

FlexSEM 1000 II采用新型偏压系统，可在低加速电压下获得高放射电流。从而，在低加速电压下也能实现同类产品中最高的图像清晰度（S/N）。

视频

三维测量软件

利用SEM上4分割背散射电子检测器所获得的信号，可计算4个方向的表面形状，从而无需进行样品倾斜和视野对位，即可构建三维模型。
Hitachi map 3D支持多个国家的语言，具备用于调节样品位置的各种校正功能、以及可追溯测量过程的测量系统、符合ISO标准的表面粗糙度（面粗糙度、线粗糙度）的测定、此外还包括表面积、体积等其他测量功能以及报告输出等功能。